電容的耐壓，表示電容在定條件下連續(xù)使用所能承受的電壓。如果加在電容上的作電壓過(guò)額定電壓，電容內(nèi)的緣介質(zhì)就有可能被擊穿，成片間短路或嚴(yán)重漏電。因此，電容的作電壓不能大于其額定耐壓，以保證電路可靠作。    對(duì)于電解電容器，漏電是性能標(biāo)中重要的項(xiàng)。電解電容的漏電與電壓的關(guān)系密切，漏電隨作電壓的增而增大。當(dāng)作電壓接近陽(yáng)的賦能電壓時(shí)，漏電會(huì)急劇上升。通過(guò)測(cè)試電解電容的漏電電，可以推算出它的限耐壓和額定耐壓，對(duì)于電路中電容耐壓的取值，有直接的參考意義。    根據(jù)這個(gè)原理，筆者并制作了～款電容耐壓測(cè)試儀，其線路簡(jiǎn)單、成本低廉、制作容易，較好地解決了業(yè)余條件下電容耐壓測(cè)試的問(wèn)題。    變壓器T1和T2型號(hào)相同，背靠背對(duì)接，提供低壓兩組電源，并起到隔離作用。低壓的經(jīng)整濾波后，由R1、DWl、Q1、Ral～Ral 1組成電可調(diào)的恒源。壓的經(jīng)整濾波后由Rbl～RblO、DW2分壓，Q2輸出可調(diào)的直電壓。使用時(shí)選擇合適的電壓Uc和電Jc，將被測(cè)電容接到Cxa、Cxb兩點(diǎn)上，此時(shí)會(huì)看到電壓表針緩慢偏轉(zhuǎn)，達(dá)到定的位置后靜止，針?biāo)碾妷杭礊樵撾娙菰诼╇婋姙閘c時(shí)所承受的耐壓。    波段開(kāi)關(guān)K3、K4（各單擋11位）分別是測(cè)試電壓和電（即漏電）選擇開(kāi)關(guān)，其測(cè)試量程如表1所示。表2為測(cè)試電路中的元件清單。、測(cè)試電路的使用方法    1.將測(cè)試電壓調(diào)到比電容額定電壓些的擋位。如測(cè)試35V的申容?？蓪跷环诺?4V，測(cè)試50v的電容，可將擋位放到64M或96V.擋位些對(duì)測(cè)試結(jié)果影響不大，只是擋位越，三管Q1的耗相應(yīng)會(huì)大些。    2.選擇合適的測(cè)試電。測(cè)試電應(yīng)根據(jù)電容容量來(lái)選擇，容量越大測(cè)試電也越大。對(duì)于4700μF以上的電容，可選擇大于10mA的測(cè)試電；對(duì)于1000～4700μF的電，容，可選擇5mA左右的測(cè)試電：對(duì)于10μF以下的電容，可選擇0.2～1mA的測(cè)試電。    3.紅色鱷魚(yú)夾接電容正，黑色鱷魚(yú)夾接電容負(fù)。接好后看到電壓表針勻速緩慢偏轉(zhuǎn)。正常情況下偏轉(zhuǎn)位置應(yīng)過(guò)額定電壓，當(dāng)達(dá)到某值時(shí)其針偏轉(zhuǎn)變慢，并且越來(lái)越慢，zui終靜止下來(lái)，此時(shí)電容的漏電等于Q1集電的恒電，電壓表所示的電壓，為此電容在漏電電為Ic時(shí)所承受的耐壓，可粗略認(rèn)為是該電容的限耐壓。    4.測(cè)試畢后將開(kāi)關(guān)K2閉合，待電容放電后取下。    表3是利用附圖的測(cè)試電路測(cè)量的分電解電容器的產(chǎn)品實(shí)例。二、測(cè)試經(jīng)驗(yàn)總結(jié)    1.電容容量越大，測(cè)試電（漏電）也應(yīng)相應(yīng)變大。    產(chǎn)的鋁電解電容器，在額定電壓6.3～450V，標(biāo)稱(chēng)容量10～680μF時(shí)，漏電可按下列公式計(jì)算：I≤（KxCxU）／1000公式中：I為漏電（mA）；K為系數(shù)（20℃±5℃時(shí)，K=O.03）；U為額定作電壓（V）；C為標(biāo)稱(chēng)容量（μF）；    2.由于電解電容器只能單向作，如將電解電容正負(fù)端接反測(cè)試，在5mA電下測(cè)試其電壓會(huì)低，大約只有4V左右。    3.長(zhǎng)期不用的電解電容器，由于氧化膜的分解，容量、耐壓都有定的衰減，在*次使用時(shí)，應(yīng)加低壓（1／2額定耐壓）老化段時(shí)間（等效電解電容器的賦能）。    4.同樣的容量和耐壓的電解電容器，其體積較大、分量較重的般耐壓性能些；同樣的容量和耐壓的電解電容器，其相同的測(cè)試電，電壓針偏轉(zhuǎn)快的，漏電較小。    5.電解電容限耐壓般為其額定電壓的120％左右。    6.當(dāng)作電壓于額定電壓時(shí)，電容就較容易擊穿。因此選用電解電容時(shí)，應(yīng)使額定電壓于實(shí)際作電壓，并要預(yù)留定的余量，以應(yīng)付電壓的波動(dòng)。般情況下，額定電壓應(yīng)于實(shí)際作電壓的10％～20％，對(duì)于作電壓穩(wěn)定性較差的電路，可酌情預(yù)留更大的余量。    7.使用本電路測(cè)試電解電容器，不會(huì)成電容的損壞。三、測(cè)試電路的改    1.由于沒(méi)有購(gòu)買(mǎi)到合適的電壓表頭，DC250V以上擋不能示。如果能夠換成DC320v表頭就理想。表頭量程也不宜太大，否則會(huì)降低分辨率，用這樣的表頭去測(cè)試低耐壓電容時(shí)，會(huì)成讀數(shù)偏差太大。    2.為了取得更準(zhǔn)確的測(cè)試電壓，可將Rbl～Rbl0分壓電阻換成相應(yīng)穩(wěn)壓值的穩(wěn)壓管（加限電阻）或多圈可調(diào)電阻。    3.V1若換成數(shù)字式電壓表，電壓讀數(shù)將更加直觀、。不過(guò)需另外加裝組DC5v浮動(dòng)電源。    4.恒電阻Ral～Rall，若用只47∞電阻串聯(lián)只4.7kΩ多圈電位器代替后，其恒值（1.1～12mA）可連續(xù)可調(diào)。